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渡辺, 深町, 鵜林, 細合, 亀井, "AspectJによる不確かさを包容した単体テスト環境," 電子情報通信学会 信学技報 KBSE2015-58, pp. 57-62, 2016年. | |
ID | 421 |
分類 | 研究会・全国大会等 |
タグ | さ 不確か 包容 単体テスト 環境 |
表題 (title) |
AspectJによる不確かさを包容した単体テスト環境 |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
渡辺 啓介,深町 拓也,鵜林 尚靖,細合 晋太郎,亀井 靖高 |
英文著者名 (author) |
Keisuke Watanabe,Takuya Fukamachi,Naoyasu Ubayashi,Shintaro Hosoai,Yasutaka Kamei |
編者名 (editor) |
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編者名 (英文) |
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キー (key) |
,,,, |
書籍・会議録表題 (booktitle) |
電子情報通信学会 信学技報 KBSE2015-58 |
書籍・会議録表題(英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
57-62 |
組織名 (organization) |
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出版元 (publisher) |
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出版元 (英文) |
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出版社住所 (address) |
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刊行月 (month) |
0 |
出版年 (year) |
2016 |
採択率 (acceptance) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
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