渡辺, 深町, 鵜林, 細合, 亀井, "AspectJによる不確かさを包容した単体テスト環境," 電子情報通信学会 信学技報 KBSE2015-58, pp. 57-62, 2016年.
ID 421
分類 研究会・全国大会等
タグ さ 不確か 包容 単体テスト 環境
表題 (title) AspectJによる不確かさを包容した単体テスト環境
表題 (英文)
著者名 (author) 渡辺 啓介,深町 拓也,鵜林 尚靖,細合 晋太郎,亀井 靖高
英文著者名 (author) Keisuke Watanabe,Takuya Fukamachi,Naoyasu Ubayashi,Shintaro Hosoai,Yasutaka Kamei
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) ,,,,
書籍・会議録表題 (booktitle) 電子情報通信学会 信学技報 KBSE2015-58
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 57-62
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 0
出版年 (year) 2016
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BiBTeXエントリ
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